ABSOLUTE MULTILINE-TECHNOLOGIE VON ETALON

Stabile Überwachung der Maschinen- und Strukturgeometrie durch Kombination von Interferometrie mit einem absoluten Messsystem

Richtungsweisende Längenmesstechnik

Deformationsanalyse, Überwachung der Geometrie und Absolutinterferometrie

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Die ABSOLUTE MULTILINE-TECHNOLOGIE kombiniert die Stärke eines Interferometers und eines absoluten Messsystems, um Maschinen- und Strukturgeometrie stabil und mit höchster Genauigkeit zu überwachen.

Das System bietet die Präzisionsmessung von Längen bis zu 30 Metern mit einer Messunsicherheit von nur 0,5 µm pro Meter, gleichzeitig auf bis zu 124 Messkanälen. 

Anders als bei konventionellen Interferometern kann der Messstrahl jederzeit ohne Genauigkeitsverluste unterbrochen werden. Im Bruchteil einer Sekunde ermittelt das System erneut den absoluten Abstand und stellt so höchste geometrische Präzision sicher.

Die innovativen Systemeigenschaften dieser Technologie setzen neue Maßstäbe für die automatisierte Messtechnik in der Fertigung.
Das System führt Messungen mit außergewöhnlicher Präzision und unter extremen rauen Bedingungen durch und ist damit für anspruchsvolle Messaufgaben in vielen wissenschaftlichen und fertigungstechnischen Bereichen prädestiniert.

Forschung und Entwicklung

  • Positionsüberwachung von Spiegeln und Detektoren großer Teleskope, um die Rüstzeit zu verkürzen und die Bildschärfe zu verbessern.
  • Messung und Positionierung von Bauteilen im Vakuum an Teilchenbeschleunigern, wie z. B. CERN
  • Analyse kleinster Verformungen von Maschinen und Strukturen, z. B. für Belastungs- und Temperaturtests
  • Optische Oberflächenmessung von Verformung und Abweichung von Sollgeometrien

Zentrales Messsystem, Montage und Qualitätssicherung

  • Automatisierte Verformungs- und Positionsmessung großer Strukturen und Komponenten
  • Werksweites Metrologienetzwerk zur automatisierten Überwachung von Werkzeugmaschinen und Messsystemen sowie Einleiten von Kompensationsmaßnahmen bei Bedarf zur Sicherstellung der Maßhaltigkeit von Bauteilen
  • System als Längenreferenz für nationale Metrologie-Institute zur Übertragung an Gebäude über große Distanzen hinweg

Eigenschaften und Vorteile

Absolute Entfernungsmessung von wenigen Millimetern (Konfiguration Nahbereich) bis zu 30 m (Konfiguration Standard) und mehr

Messunsicherheit (95 %) = 0,5 μm/m für Entfernungen zwischen 0,02 m und 30 m

Bis zu 124 synchrone Messkanäle zum Einrichten komplexer Metrologienetzwerke

Robuste Messsensoren für zuverlässigen Betrieb auch in sehr rauer Messumgebung

Messfasern mit einer Länge von bis zu 7 km

Zusätzliche Messkanäle durch sequenzielles Glasfaser-Multiplexing

Werksweite Installation mit zentraler Laser- und Auswerteelektronik

Umfassende Software für die Geometrieüberwachung in 1D und Verfügbarkeit einer Serverschnittstelle für Fremdsoftware