ETALON ABSOLUTE MULTILINE 技術

絶対測定システムによる干渉計測を使用する機械および構造形状の連続モニタリング

長さ測定のパイオニア

変形解析、形状モニタリング、絶対干渉計測

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ABSOLUTE MULTILINE 技術は、干渉計と絶対測定システムの強みを組み合わせ、機械や構造物の形状を最高精度で連続的に監視します。

このシステムの不確実性は、1 メートル当たりたったの 0.5 µm で、最大 30 m の長さを正確に測定できます。1 つのシステムで最大 124 の測定チャンネルを同時に操作できます。 

従来の干渉計とは異なり、測定ビームはいつでも中断することができ、次の測定では、システムは精度を損なうことなくわずか数秒で絶対距離を再決定し、最高の幾何学的精度を保証します。

この独自のシステム特性により、この技術は生産における計測自動化を新たなレベルに引き上げます。
この卓越した精度と過酷な条件下での動作能力を持つシステムは、幅広い科学および製造分野の要求の厳しい測定作業に理想的です。

研究と開発

  • 大型望遠鏡の鏡と検出器の位置監視により、セットアップ時間を短縮し、より鮮明な画像を実現
  • CERN などの粒子加速器における真空中の部品の測定と位置情報
  • 機械や構造物のわずかな変形の解析、例えば、 負荷および温度試験用
  • 公称形状の変形および偏差の光学表面測定

集中計測システム、アセンブリおよび品質保証

  • 大型構造物および部品の変形および位置測定の自動化
  • 工場全体で工作機械と測定機の自動モニタリングと形状補正用の計測ネットワークを使用し、製造部品の寸法精度を保証
  • 全国的な計測機関の用途では、このシステムはさまざまな建物に長距離送信できる長さ基準として機能します。

機能と利点

数ミリメートル (近距離構成) から最大 30 m (標準構成) までの絶対距離測定

測定の不確実性 (95%) 、 0.02 m ～30 m の距離で 0.5 μm/m。

最大 124 の同期チャンネルにより、複雑な計測ネットワークのセットアップが可能

過酷な環境でも信頼性の高い操作を可能にする堅牢な測定センサー

最大 7 km 長さのファイバーの測定

ファイバー スイッチを経由して、シーケンシャル マルチプレックスを使用する追加チャンネル

中央レーザーと評価機器による工場全体の設置に適しています

1D 形状モニタリング用の包括的なソフトウェアとサードパーティソフトウェア用のサーバーインターフェースを利用可能